|
Test Conference (ITC), IEEE International Conference 2000.(Test Conference (ITC), IEEE International 2000) paper 1172 p.
発行年月 |
2000年01月 |
|---|
|
出版国 |
アメリカ合衆国 |
|---|
言語 |
英語 |
|---|
媒体 |
冊子 |
|---|
装丁 |
paper |
|---|
|
ページ数／巻数 |
1172 p. |
|---|
|
|
ジャンル |
洋書 |
|---|
|
|
ISBN |
9780780365469 |
|---|
|
商品コード |
0200100019 |
|---|
|
|
|
本の性格 |
議事録 |
|---|
|
|
|
商品URL
| https://kw.maruzen.co.jp/ims/itemDetail.html?itmCd=0200100019 |
|---|
