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Ｘ線分析最前線　改訂　

佐藤　公隆　編
合志　陽一　監修

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価格 \5,500（税込）

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発行年月	2002年03月
出版社／提供元	アグネ技術センター
言語	日本語
媒体	冊子
ページ数／巻数	３８６ｐ
大きさ	21
ジャンル	和書
ISBN	9784900041950
商品コード	0102011822
NDC分類	433.57
基本件名	エックス線分光分析
商品URL	https://kw.maruzen.co.jp/ims/itemDetail.html?itmCd=0102011822

内容

「総論」では概要、各手法の特徴と使い分けについて、「方法論」ではPIXEや全反射蛍光Ｘ線分析などの先端的内容を、「応用編」は薄膜・半導体やユニークな物質への応用例を紹介するなど、全編を通してＸ線分析の最前線の情報を網羅した。
好評の既刊（1998年刊）に最新情報を盛り込んだ。分析技術者、材料研究者、先端材料の現場においても必携の書。

序文にかえて監修のことば総論　1．新たな発展期を迎えたＸ線分析　合志陽一　2．Ｘ線分析の特徴と使い分け―なぜＸ線分析を使うのか―　西勝英雄方法論　3．全反射蛍光Ｘ線分析　谷口一雄　4．蛍光Ｘ線の干渉現象　佐々木裕次　5．Ｘ線回折分析　中村利廣　6．イオン励起Ｘ線分析（PIXE）　宇田応之・小谷敏也　7．放射光を光源とするＸ線分析　早川慎二郎　8．装置から見たＸ線分析の最近の進歩　新井智也応用編　9．半導体材料とＸ線分析　藥師寺健次　10．金属・無機材料とＸ線分析　木村正雄　11．有機・高分子材料とＸ線分析　石谷炯・北野幸重・中山陽一　12．カラーラウエ法による薄膜の構造解析　堀内俊寿　13．先進複合材料とＸ線分析　佐藤公隆　14．非破壊の特徴を生かした文化財分析　田口勇　15．斜入射Ｘ線分析による新しい薄膜評価技術　桜井健次Ｘ線分析100年略年表執筆者略歴索引

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