著者紹介

内容

目次

1　「はかる」ということ 　1.1　はかることと文化 　1.2　科学の成立と測定 　1.3　はじめに行動ありき 　1.4　考える計測技術者 　1.5　測定への過程 2　計測の原点 　2.1　ふたたび「測る」ということ 　2.2　測定の尺度：単位制度のこと 　2.3　3桁と6桁 3　誤差は「誤り」の大きさか 　3.1　誤差とはなにか 　3.2　測定値の性質 4　測定精度の高め方 　4.1　測定値の統計的処理 　4.2　間接測定における最小2乗法 　4.3　測定精度の高め方 　4.4　最小2乗法を使った直線の当てはめ 5　計測学の構成 　5.1　計測学の方法による構成 　5.2　計測の分野による構成 　5.3　計測手段による構成 　5.4　計測対象による構成 6　計測系の構成 　6.1　計測系の分類 　6.2　計測器の構成 　6.3　計測の方式 7　計測量の変換 　7.1　計測値変換の王道 　7.2　計測量の変換とサンプリング定理 8　計測量のアナログ変換 　8.1　測定量の一次変換：センサー 　8.2　直動変換 　8.3　電気系への変調変換 9　計測量のデジタル変換 　9.1　計測量自体が離散的な量 　9.2　パルスまたは周波数への直動変換 　9.3　計測量のデジタル量への変調変換 10　計測量の伝送と処理 　10.1　読みとり精度 　10.2　視覚と聴覚 11　測定の限界と新しい展開（1） 　11.1　雑音と計測限界 　11.2　波動性における不確定性による限界 　11.3　量子力学的不確定性による限界 12　測定の限界と新しい展開（2）―統計現象を利用した計測― 　12.1 相関の概念 　12.2　物理データの基礎的記述 　12.3　電力スペクトル密度関数 13　測定の限界と新しい展開（3）―レーザーを使った計測― 　13.1　なぜレーザーなのか 　13.2　レーザーの原理 　13.3　レーザー光のコヒーレントな性質 　13.4　レーザー光の可干渉性を利用した計測 　13.5　偏光の純粋性を使った計測 　13.6　レーザー高輝度性を使った計測