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表面分析入門(新教科書シリーズ)
吉原 一紘,
吉武 道子
著
発行年月 |
1997年09月 |
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言語 |
日本語 |
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媒体 |
冊子 |
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ページ数／巻数 |
１２０ｐ |
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大きさ |
21 |
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ジャンル |
和書 |
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ISBN |
9784785361020 |
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商品コード |
0197114649 |
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NDC分類 |
428.4 |
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商品URL
| https://kw.maruzen.co.jp/ims/itemDetail.html?itmCd=0197114649 |
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著者紹介
吉原 一紘（著者）：元 物質・材料研究機構理事、工学博士。1966年 東京大学工学部卒業。東京大学大学院工学系研究科博士課程修了。東京大学助手、科学技術庁金属材料技術研究所研究員、同研究所極限場研究センター長、物質・材料研究機構ナノマテリアル研究所長・材料研究所長・理事などを歴任。
吉武 道子（著者）：物質・材料研究機構主席研究員、工学博士。1985年 お茶の水女子大学理学部卒業。東京大学大学院理学系研究科修士課程修了。科学技術庁金属材料技術研究所研究員などを経て現職。
内容
代表的な表面分析法であるオージェ電子分光法とX線光電子分光法に関し、原理からデータの解釈法にいたるまでをやさしく解説したテキスト。
高度な物理・化学の予備知識は必要なく、本書により、現在使用されている表面分析法についての基礎知識を得ることができる。
