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走査プローブ顕微鏡と局所分光～実戦ナノテクノロジー～
重川 秀実,
吉村 雅満,
河津 璋,
坂田 亮
編
発行年月 |
2005年11月 |
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言語 |
日本語 |
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媒体 |
冊子 |
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ページ数／巻数 |
４２９ｐ |
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大きさ |
22 |
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ジャンル |
和書 |
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ISBN |
9784785369071 |
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商品コード |
0105103092 |
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NDC分類 |
549.97 |
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商品URL
| https://kw.maruzen.co.jp/ims/itemDetail.html?itmCd=0105103092 |
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著者紹介
重川 秀実（編者）：筑波大学教授、工学博士。東京大学大学院工学系研究科博士課程中退。東京大学助手、筑波大学助教授などを経て現職。
吉村 雅満（編者）：豊田工業大学教授、博士（工学）。東京大学工学部卒業、東京大学大学院工学系研究科博士課程中退。東京大学助手、広島大学助教授、豊田工業大学助教授・准教授などを経て現職。
河津 璋（編者）：東京理科大学教授、工学博士。東京大学工学部卒業。東京大学助教授・教授などを経て現職。
坂田 亮（編者）：慶応義塾大学名誉教授、工学博士。1958年 慶応義塾大学旧制大学院（文部省特別研究生）修了。慶応義塾大学教授、杏林大学教授などを歴任。
内容
半導体から生体材料までの幅広い物質や材料における表面構造や各種物性研究のための最も有効な手法として脚光を浴びている「走査プローブ顕微鏡法」を、研究者のための実戦的入門書として解説。
基礎原理をはじめ、現在も工夫改良され発展し続けている各種手法まで、最前線で活躍する執筆陣が問題解決へのアイデアを含め解説。
