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暗号と乱数～乱数の統計的検定～(統計学One Point 7)
藤井 光昭
著
発行年月 |
2018年04月 |
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言語 |
日本語 |
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媒体 |
冊子 |
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ページ数／巻数 |
10p,104p |
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大きさ |
21cm |
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ジャンル |
和書／理工学／数学／確率論・数理統計学 |
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ISBN |
9784320112582 |
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商品コード |
1027204576 |
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NDC分類 |
417.6 |
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本の性格 |
テキスト |
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新刊案内掲載月 |
2018年05月3週 |
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商品URL
| https://kw.maruzen.co.jp/ims/itemDetail.html?itmCd=1027204576 |
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著者紹介
藤井 光昭（著者）：京都大学理学部数学科卒業。東京工業大学名誉教授。理学博士。専門は統計学。
内容
近年社会において情報セキュリティが注目されているが，統計学的には論じらることが少なかったテーマである。メッセージを送信する際のセキュリティ対策として乱数を用いる手法において，その乱数性の良さを統計的に測る手段について論じたのが本書である。日本においてもセキュリティ関係の仕事に携わる方々等に関心が持たれている，米国国立機関 NISTが提案した15個の検定方法を中心に解説している。 統計学に興味のある方には新しい応用分野として，また，情報セキュリティ分野に興味をある方やセキュリティ関係の仕事に携わる方には一つの新しい観点として読める書籍となっている。統計学が専門でない方のために，その場の話に合わせる形で統計学上の概念も説明している。
