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走査透過電子顕微鏡の物理(基本法則から読み解く物理学最前線 20)
田中 信夫
著
須藤 彰三,
岡 真
監修
発行年月 |
2018年08月 |
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言語 |
日本語 |
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媒体 |
冊子 |
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ページ数/巻数 |
8p,161p |
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大きさ |
21cm |
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ジャンル |
和書/理工学/電気・電子工学/電気機器 |
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ISBN |
9784320035409 |
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商品コード |
1027978033 |
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NDC分類 |
549.97 |
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本の性格 |
学術書 |
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新刊案内掲載月 |
2018年09月3週 |
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商品URL
| https://kw.maruzen.co.jp/ims/itemDetail.html?itmCd=1027978033 |
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著者紹介
田中 信夫(著者):名古屋大学名誉教授。(財)JFCC客員主管研究員。工学博士。日本顕微鏡学会論文賞、米国高分子物理論文賞、文部科学大臣表彰科学技術賞(開発部門)受賞。
内容
ルネサンス以降,人類が作りだした主要な科学機器のひとつとして,顕微鏡が挙げられるだろう。17世紀のフックやレーウェンフックによる微生物の観察から始まり,光学顕微鏡,電子顕微鏡,走査プローブ顕微鏡,X線顕微鏡などの開発が進んできた。そして,その観察対象はついに100億分の1メートルの単原子にまで到達したのである。 本書で扱う透過電子顕微鏡は1931年にドイツで開発された。我が国でも,1930年代後半から大学や国立研究所を中心に研究が進められ,現在では研究と技術開発で世界をリードする国のひとつとなっている。 本書では,発展著しい透過電子顕微鏡法を大きく牽引している,走査透過電子顕微鏡(Scanning transmission electron microscopy; STEM)を詳解し,代表的な研究成果を簡潔にまとめている。人類が原子を直接観察できるようになるまでの歴史も概観し,X線回折法や光学顕微鏡および走査プローブ顕微鏡法と比較しながら,STEMの本質をやさしく解説した一冊である。