鈴木 俊明（著者）：元 日本電子株式会社、博士（工学）。東京電機大学工学部卒業。日本電子株式会社入社、東京電機大学大学院修士課程終了。日本電子株式会社 SM事業ユニット・EP事業ユニットなどを経て現在 東京電機大学研究員・非常勤講師。
本橋 光也（著者）：東京電機大学教授、工学博士。埼玉県に生まれる。1985年 東京電機大学工学部卒業、東京電機大学大学院工学研究科博士後期課程修了。東京電機大学助手・助教授などを経て現職。専門分野は半導体工学、無機材料など。

　SEM（走査電子顕微鏡）は多くの研究機関や企業、大学、工業高校などに導入されており、一通り操作手順を覚えれば、比較的簡単に画像を得ることができよう。しかし実際は、観察する材料の種類や状態によって撮影条件を細かく設定することが可能で、またそうしなければ本当に観察したい実像は得られないことも多いのである。
　本書は、SEMの開発にかかわり撮影指導をしてきた著者が、数多の失敗も含めた長年の蓄積を元に、どうすれば目的に適う画像が得られるのか、そのコツを豊富な具体例とともに伝授する画期的な書籍である。鉱物から金属材料、生体材料まで、SEMを使い始めた人や、ある程度慣れてはきたがいま一つ自身が持てない人、指導する立場でより確かなノウハウを身につけたい人も、本書を手にワンランク上のSEMユーザーを目指そう！