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MeL 新刊
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【MeL】走査電子顕微鏡 第2版（表面分析技術選書）（DL不可）

公益社団法人　日本表面真空学会 　編
    数量 冊 
価格 \13,794（税込）         

※表示価格は「学術機関向け・同時1アクセス」の価格となります。
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発行年月 2025年12月
出版社／提供元
言語 日本語
媒体 電子
ページ数／巻数 10p,212p
ジャンル 和書／理工学／電気・電子工学／電気機器
商品コード 1041844994
NDC分類 549.97
基本件名 電子顕微鏡
本の性格 実務向け
商品URL
参照 		https://kw.maruzen.co.jp/ims/itemDetail.html?itmCd=1041844994

内容

走査電子顕微鏡（SEM）は、電子線で試料表面を走査することで、試料表面形状だけではなく、試料の元素組成や結晶方位、化学結合状態など、さまざまな情報を得られる手法であり、多様な試料の観察・分析に広く用いられている。本書はSEMの基礎的・理論的な解説から、多様な試料の種類ごとに試料の調整法や観察手法を実例とともに解説。さらに発展的なデータの機械学習による解析や自動化についても扱う。SEMの初心者からさまざまな分野での応用を検討している上級者まで、必携の一冊。

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