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二次イオン質量分析法(表面分析技術選書)

 絶版
       
価格 \3,960(税込)         

発行年月 1999年07月
出版社/提供元
言語 日本語
媒体 冊子
ページ数/巻数 195p
大きさ 21
ジャンル 和書
ISBN 9784621046234
商品コード 0199051790
NDC分類 428.4
基本件名 表面(工学上)
商品URL
参照
https://kw.maruzen.co.jp/ims/itemDetail.html?itmCd=0199051790

内容

現場の分析実務技術者、材料及び各種機能デバイスの開発に従事している技術者を対象とした、表面分析法として位置づけが明確になっているSIMS(二次イオン質量分析法)の実用書。〈ソフトカバー〉

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