ログイン
|
ご利用案内
|
よくあるご質問
ホーム
和書
洋書
視聴覚資料
図書館用品・その他
MeL
eBook
商品検索
和書
洋書
視聴覚資料
古書・その他商品
MeL
eBook
ホーム
>
商品詳細
前のページに戻る
この商品のeBook(PDF)はこちら
この商品のeBook(MeL)はこちら
二次イオン質量分析法(表面分析技術選書)
絶版
価格
\3,960(税込)
この商品について問合せる
発行年月
1999年07月
出版社/提供元
丸善出版
言語
日本語
媒体
冊子
ページ数/巻数
195p
大きさ
21
ジャンル
和書
ISBN
9784621046234
商品コード
0199051790
NDC分類
428.4
基本件名
表面(工学上)
商品URL
https://kw.maruzen.co.jp/ims/itemDetail.html?itmCd=0199051790
内容
現場の分析実務技術者、材料及び各種機能デバイスの開発に従事している技術者を対象とした、表面分析法として位置づけが明確になっているSIMS(二次イオン質量分析法)の実用書。〈ソフトカバー〉
カート
カートに商品は入っていません。
前のページに戻る