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【MeL】二次イオン質量分析法 （表面分析技術選書）
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数量
冊
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価格
\13,068（税込）
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発行年月 |
1999年07月 |
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言語 |
日本語 |
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媒体 |
電子 |
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ページ数／巻数 |
１９５ｐ |
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ジャンル |
和書 |
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商品コード |
1008060834 |
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NDC分類 |
428.4 |
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商品URL
| https://kw.maruzen.co.jp/ims/itemDetail.html?itmCd=1008060834 |
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内容
現場の分析実務技術者、材料及び各種機能デバイスの開発に従事している技術者を対象とした、表面分析法として位置づけが明確になっているＳＩＭＳ（二次イオン質量分析法）の実用書。〈ソフトカバー〉
